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HTRZ-II型tengbo绕组变形测试仪

 

主要技术参数
◆ 扫描方式: (仪器具备线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统
1)线性扫描分布
▲ 扫频测量范围:(1kHz)-(2MHz)、2000扫频点、分辨率为1kHz
2)分段扫频测量分布
▲ 扫频测量范围:(0.5kHz)-(1MHz)、2000扫频点;
(0.5kHz)-(10kHz)、 分辨率为0.02kHz
(10kHz)-(100kHz)、 分辨率为0.2kHz
(100kHz)-(500kHz)、 分辨率为1kHz
(500kHz)-(1000kHz)、 分辨率为1kHz
◆ 幅度测量范围: (-120dB)–(+20 dB)
◆ 幅度测量精度: 0.01dB
◆ 扫描频率精度: 小于 0.01%
◆ 信号输入阻抗:1MΩ
◆ 信号输出阻抗:50Ω
◆ 同相测试重复率:99.5%以上
◆ 重量:15Kg(含包装箱及基本配置)
◆ 体积:530X300X280mm(包括外铝金盒)
 
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